用于质量保证的三维 X 射线测量技术ZEISS METROTOM基于蔡司METROTOM 的工业计算机断层扫描（CT）利用蔡司的工业计算机断层扫描系统，仅需一次 X 射线扫描，即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台，满足客户对精确性的高要求。
用于质量保证的三维 X 射线测量技术
ZEISS METROTOM
基于蔡司METROTOM 的工业计算机断层扫描（CT）
利用蔡司的工业计算机断层扫描系统，仅需一次 X 射线扫描，即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台，满足客户对精确性的高要求。
十二年来，蔡司METROTOM系列一直为质量控制提供可靠的CT技术。第三代计算机断层扫描（CT）系统蔡司METROTOM 1500极好地证明了先进可靠的X射线技术不再是未来的愿景。今天，您可以使用面向未来的质量控制。
在第三代系统中，新的3k检测器可生成更高分辨率的3D体数据集，即更多体素可以检测到更小的缺陷。
蔡司METROTOM 1500（第2代与第3代）中铝制部件的图像比较。由于体素尺寸较小，新的3K检测器可以以更高分辨率清晰显示更小的细节。
通过检测器的不同操作模式，扫描时间可减少多达75％，同时获得与2k检测器相当的体素尺寸。
1) 探测器边缘最多3%余量
2) 发货前制造工厂检验
3) Ip/mm=线对/毫米
4) 精度规格适用于在图像中而非扩展条件下进行测量
5) 精度规格适用于VAST扫描模式及投影数量>=METROTOM OS推荐的投影数量
6) 测量长度L 单位为mm
1) 给出理论最大工件尺寸，给出数值描述了工件旋转时的包容圆柱，如考虑工件夹具则此数值将可能缩减。
2) 满足指定精度的必要条件。
3) 最大转动惯量 J = 0.6kgm2 及最大转矩 10 Nm
蔡司METROTOM是一种工业计算机断层扫描系统，用于测量和检查由塑料或轻金属制成的完整部件。而在利用传统测量机测量时，此类隐藏性的结构信息只有将零件通过费时的层层破坏方能获得。
轻金属部件的测量检验
利用蔡司METROTOM 计算机断层扫描系统可一次扫描海量的零部件特征。这些测量结果非常精确，且具可追溯性。和接触式测量方法不同，蔡司METROTOM 获取海量测量点时，时间显著缩短。
连接器的测量。
三维CT数据综合分析
易于使用，甚至适合初学者使用的分析软件GOM Volume Inspect允许在3D中完成CT数据分析。可以精确分析几何结构、收缩孔或内部结构和组件。即使是最小的缺陷也可以通过单个截面图像看到，并且可以根据各种标准自动评估。还可以将多个零部件的体积数据加载到项目中，执行趋势分析，并将分析与CAD数据进行比较。通过这种方式，可以准确地确定和记录组件的质量，并且所有这些都可以在一个软件中完成。
