一次性检查隐藏结构蔡司METROTOM 1借助易于使用的蔡司METROTOM 1 CT技术，只需一次扫描，任何人都能有效完成复杂的测量和检查任务。测量并检测接触式或光学测量系统无法检测到的隐藏缺陷和内部结构。另一个巧妙之处在于蔡司METROTOM 1的尺寸。由于体积小，CT扫描仪很容易便能放置于您的测量实验室之中，可以一次性完成内部测量和检查。蔡司METROTOM 1——紧凑而可靠逐行CT技术，用
蔡司METROTOM 1
借助易于使用的蔡司METROTOM 1 CT技术，只需一次扫描，任何人都能有效完成复杂的测量和检查任务。测量并检测接触式或光学测量系统无法检测到的隐藏缺陷和内部结构。另一个巧妙之处在于蔡司METROTOM 1的尺寸。由于体积小，CT扫描仪很容易便能放置于您的测量实验室之中，可以一次性完成内部测量和检查。
蔡司是CT技术领域的专家，十多年以来，其METROTOM系列一直在提供可靠的CT系统。蔡司计算机断层扫描系统METROTOM 1现在为每个人都提供了可靠的X射线技术和无损质量保证。
蔡司METROTOM 1配有操作和检测软件GOM Volume Inspect（体积检测）。软件适合初学者使用，结合了CT流程的所有阶段——从扫描设置和重建，到数据评估和报告。软件可以精准地评估几何形状、缩孔或内部结构和装配情况。即使是超小的缺陷也可以通过单个截面图像看到，并且可以使用多种标准自动进行评估。只需一个软件，您就可以将几个组件的体积数据加载到项目中，执行趋势分析，并将采集到的3D数据与CAD模型进行比较等等。
X射线源 | 160 kV |
X射线探测器 | 2.5 k |
测量容积 | 165 x 140 mm |
测量规格(MPE SD) | < 5 μm |
尺寸 | 1750 mm（宽） x 1820 mm（高） x 870 mm（厚） |
重量 | 2100 kg |
软件 | GOM Volume Inspect体积检测（已包含） |
蔡司METROTOM 1500
应用领域：
无损检测、同步扫描多个工件。
检查特点：
测量内部和外部结构、检查内部缺陷（如缩孔）。
